(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可分析；
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質(zhì)檢測、水質(zhì)在線監(jiān)測可進行快速檢測，檢測環(huán)境里的重金屬是否超標(biāo)。
同時具有以下特點
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上的電制冷半導(dǎo)體探測器，能量分辨率更優(yōu)于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
為了進一步促進推進我國有色金屬化學(xué)元素分析檢測技術(shù)進展與產(chǎn)業(yè)升級，促進應(yīng)用范圍的不斷加深與擴大，切實解決當(dāng)前本領(lǐng)域內(nèi)關(guān)注的熱點、焦點和難點問題；3月29日—3月31日，由中冶有色技術(shù)平臺、中冶有色技術(shù)網(wǎng)主辦，江蘇天瑞儀器股份有限公司（以下簡稱天瑞儀器）協(xié)辦的“有色金屬化學(xué)元素分析檢測技術(shù)交流會”（以下簡稱交流會）在昆山成功舉行。

為了更好的服務(wù)客戶，**用戶儀器的良好性能。2021年3月19日，由江蘇天瑞儀器股份有限公司（以下簡稱天瑞儀器）舉辦的客戶培訓(xùn)會議在浙江省寧波市陽光豪生大酒店舉行。
      本次培訓(xùn)會采用理論知識與現(xiàn)場實際操作相結(jié)合的形式，旨在提高用戶對天瑞儀器產(chǎn)品應(yīng)用操作及后期運維的能力，讓大家在實際操作中得心應(yīng)手。來自浙江地區(qū)的近百位用戶積極參加。現(xiàn)場進行培訓(xùn)的儀器有EDX1800B能量色散X熒光光譜儀、THICK800A X熒光鍍層測厚儀、GCMS6800氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、LC310液相色譜系統(tǒng)、OES8000S直讀光譜儀以及環(huán)境試驗箱操作培訓(xùn)。
根據(jù)客戶實際需求，培訓(xùn)節(jié)奏緊湊且具針對性，天瑞儀器技術(shù)們通過精心授課，現(xiàn)場操作教習(xí)，為參會人員提供了的學(xué)習(xí)機會，使其能夠正確、的使用儀器。

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗，研發(fā)用于鍍層行業(yè)的儀器，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點，以及平臺。是功能強大的儀器，配上為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測試點的需求
高精度平臺可定位測試點，重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標(biāo)可控制平臺，鼠標(biāo)點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

技術(shù)指標(biāo)

型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9% 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

標(biāo)準(zhǔn)配置

開放式樣品腔。
精密二維樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
測量注意事項：
⒈在進行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
2011年5月18日，天瑞儀器董事長劉召貴博士喜獲津貼。
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