天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司銷售部提供rohs檢測儀EDX1800b產(chǎn)品報價和說明。一鍵式設(shè)計的xrf測試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測試和分析，無需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡化測試手段。
分辨率：
采用硅漂移探測器 ，分辨率為160±5eV， 能更好的檢測鉑金中銥和金的含量。
度，性能優(yōu)：
使用25mm2大面積鈹窗探測器，大大提高樣品特征X熒光的接收能力。配合數(shù)字多道分析器技術(shù)，提高分析速度，總體提高系統(tǒng)處理能力，計數(shù)率可達(dá)8萬，比Si-PIN 6mm2探頭提高了5-10倍,精度提高了2-4倍。
超清晰攝像頭，定位：
采用新型工業(yè)級相機，樣品圖像更加清晰，輕松實現(xiàn)定位。

XRF的篩選X射線熒光光譜儀是公認(rèn)的RoHS篩選檢測儀器，由于其檢測速度快、分辨率高、實施無損檢測，所以被廣泛采用。熒光光譜儀繁多，以至于分不出誰好誰差了。在《電子信息產(chǎn)品有毒有害物質(zhì)的檢測方法》IEC62321標(biāo)準(zhǔn)文本里提到：“用能量散射X射線熒光光譜法（ED－XRF）或波長散射X射線熒光光譜法（WD－XRF）對試樣中目標(biāo)物進(jìn)行測試，可以是直接測量樣品（不破壞樣品），也可以是破壞樣品使其達(dá)到”均勻材料”（機械破壞試樣）后測試。”能真正準(zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，而且能限度地縮小“不確定”部分是好儀器。在保證既定準(zhǔn)確度的情況下盡可能快速檢測。尤其是企業(yè)選購，光譜儀是做日常RoHS監(jiān)督檢測用，非?？粗剡@一點。所以，能夠準(zhǔn)確無誤地將試樣篩選出合格、不合格、不確定三種類型，又能限度地縮小“不確定”部分，而且全部過程是在短的時間內(nèi)完成的X射線熒光光譜儀是滿足使用要求的光譜儀

儀器應(yīng)用領(lǐng)域優(yōu)勢：
設(shè)備可以有效的對檢測、鎘、鉛、、銅、鋅、鎳、鈷、釩等重金屬污染：精度分析，微量金屬元素成分盡在掌握，選用自主研制的數(shù)字多道及原裝進(jìn)口分辨率探測器，提高設(shè)備的穩(wěn)定性及元素之間的相互干擾，并提高了元素的檢出限。

RoHS檢測儀是一款集鹵素指令、RoHS指令、重金屬指令于一體的X熒光光譜儀。對鉛、汞、鎘、鋇等元素有很好的檢測下限以及精度。X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強度，可以測定元素含量。近年來，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。
ROHS檢測儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語知識
1.精密度
定義為同一樣品多次測定的平均值m和各次測定值mi之差。換句話說，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測量的時間有關(guān)的，測量的時間越長，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測同一款樣品的連續(xù)測試十一次或二十一次的相對標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測定值mi對于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時很高。這是因為有時可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計漲落引起的誤差作為測量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強度時的元素含量，稱為檢出限（或叫檢出限）。這時候，測到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測定檢出，一般要用含量比較低的樣品來測量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計數(shù)統(tǒng)計誤差
在放射性物質(zhì)的測量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機械在現(xiàn)性可確保，由儀器機械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計，但計數(shù)統(tǒng)計誤差還是不能。X射線強度是把入射到計數(shù)器上的光子變成脈沖后計數(shù)而得到的。因而計數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計誤差。 被測X射線的計數(shù)值（N）的分布屬于隨機事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計誤差。時間越長，則相對偏差越小，即精度越高。
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